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非接觸式變形測量引伸計

  • 更新時間:  2023-02-24
  • 產品型號:  FL
  • 簡單描述
  • 非接觸式變形測量引伸計是一種非接觸、光學應變測量引伸計裝置,配合萬能材料拉伸壓縮試驗機用于測量試樣的變形變化,無需在試驗過程中接觸試樣。在整個馥勒拉伸試或壓縮測試期間,直到試樣斷裂,都可以進行測量。可以實現全程變形測量,跟蹤至試樣斷裂。
詳細(xi)介紹

一、非接觸式變形測量引伸計簡介:

非接觸式變形測量引伸計是一種(zhong)非接(jie)觸(chu)、光學(xue)應(ying)變(bian)測(ce)量引(yin)伸(shen)計(ji)裝(zhuang)置,配合(he)萬能材(cai)料拉(la)伸(shen)壓縮(suo)(suo)試(shi)驗機用于測(ce)量試(shi)樣(yang)的變(bian)形(xing)變(bian)化,無需(xu)在(zai)試(shi)驗過(guo)程(cheng)中接(jie)觸(chu)試(shi)樣(yang)。在(zai)整個馥勒拉(la)伸(shen)試(shi)或壓縮(suo)(suo)測(ce)試(shi)期間,直到試(shi)樣(yang)斷裂,都(dou)可(ke)以進行測(ce)量。可(ke)以實(shi)現全程(cheng)變(bian)形(xing)測(ce)量,跟蹤至試(shi)樣(yang)斷裂。該引(yin)伸(shen)計(ji)應(ying)用于任何材(cai)料、金屬、塑(su)料、復合(he)材(cai)料的應(ying)變(bian)變(bian)形(xing)測(ce)試(shi),彈性模量測(ce)試(shi)等。

二、非(fei)接觸引伸計特點:

非接(jie)觸(chu)式引伸(shen)計系(xi)統包(bao)括攝(she)像機、3D云臺、測控系(xi)統及軟件(jian),馥(fu)勒提供用于平(ping)面樣(yang)品的(de)(de)LED照(zhao)明(ming)或(huo)用于圓柱形或(huo)平(ping)面樣(yang)品的(de)(de)圓頂燈。3D云臺安裝在可調(diao)整的(de)(de)支架上,并(bing)且可以朝向或(huo)遠(yuan)離樣(yang)品移動,以調(diao)整不(bu)同(tong)的(de)(de)視野。馥(fu)勒光學視頻(pin)引伸(shen)計系(xi)統適用于金(jin)屬(shu)、箔(bo)、復合材料或(huo)塑料的(de)(de)拉(la)伸(shen)測試、壓(ya)縮測試等。其視野范圍從2mm~200mm,根(gen)據ISO 9513(或(huo)當量)的(de)(de)精度可達1級或(huo)更高(gao),分辨率為1μm。它適合于根(gen)據ISO 10113和10275(GB/T5027和GB/T5028)測量R值,N值,并(bing)根(gen)據ISO 6892(GB/T228)測量彈性段應變(bian)、Fm伸(shen)長率和斷裂(lie)伸(shen)長率;

三(san)、主要技術參數

3.1變形(xing)測量(liang)范圍(wei)2mm、25mm、50mm、100mm、200mm等可選;

3.2變形分辨率:1μm、2μm;

3.3試驗數據采(cai)樣頻率(lv)30-200 Hz;

3.4實時(shi)測量試樣(yang)的應變數據功能(neng);

3.5鏡頭和濾光器、頂光(可(ke)選LED光條)攝像機云臺;

3.6測(ce)量(liang)可以通過可選的模擬量(liang)模塊輸(shu)出,采樣頻(pin)率高(gao)達500赫茲(zi);

3.7在(zai)馥勒試驗機(ji)測控軟件中,可進(jin)行分(fen)析(xi)圖(tu)像、校(xiao)準(zhun)曲(qu)線,將所得的測量(liang)值轉(zhuan)換成毫米等操(cao)作。通(tong)過曲(qu)線還可校(xiao)正(zheng)光學系統的任何失(shi)真、跳動或失(shi)準(zhun)。校(xiao)準(zhun)是(shi)否精確取(qu)決(jue)于相(xiang)機(ji)安裝固定(ding)是(shi)否牢固,并且(qie)焦點保持在(zai)恒(heng)定(ding)的與預設(she)范圍內;

3.8變形測量引伸計校準曲(qu)線將(jiang)自(zi)動計算,新的結果可(ke)以實時存(cun)儲和記錄,為圖像(xiang)分析做好(hao)準備;

3.9更多關于光學引伸計技術方案資料(liao)選型等請(qing)聯系馥(fu)勒技術工程師。



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